SPMプローブ
ご要望に応じてカスタムプローブの開発・製造にも対応しております
従来品から特殊用途まで多岐にわたるラインナップ


AppNanoとは
カスタム製品開発
お客様の用途に合わせて、オーダーメイドレバーの材質/コートの指定/ばね定数
測定・評価サービス
AFM測定、電子顕微鏡、集束イオンビーム(FIB)、薄膜加工などに対応
カスタムプローブ実装
使用装置に合わせたプローブの 専用マウント取り付けサービスを提供
AppNanoは、様々なSPMプローブを開発、製造、供給しています。MEMS技術(Micro-Electro-Mechanical
Systems)とAFMプローブ研究における豊富な経験を活かし、最先端の技術を駆使した最高品質のプローブを供給しています。社内のクリーンルーム設備と特性評価ツールを組み合わせることで、新製品の設計・開発において、迅速な試作、適応性、汎用性を実現します。
カタログ製品の提供に加え、高度なSPMアプリケーション向けの高性能プローブおよびアクセサリの開発に向けて、社内および社外の協力企業やお客様との共同研究プログラムも継続的に実施しています。経験豊富な研究開発チームは、ナノファブリケーション技術に関する専門知識を活かし、これらの新しいアイデアの実現に尽力しています。
製品ラインナップ
ASPMプローブ
Tapping Mode/Non-Contact Mode、Contact Mode、Force Modulation/Spectroscopy、SiN、各種コーティング(導電、磁気、導電性ダイヤモンド)といった標準的なラインナップから特徴ある製品まで提供。
AppNano社WebSite
BioLever-Z (With high density carbon tip)
High Speed Imaging silicon nitride probes for biosciences application. Replacememt probe for AC10. Typical values : L=10um, W=2 um, f=1MHz, k=0.1 N/m.

Paddle Probes
Siliocn Nitride Cantilver with Silicon Tip Probes. Compatible with all commercially available AFMs. Also availbe with PhotoThermalDrive coating for Nanosurf DriveAFM for WaveMode application. Cover large range of spring constants 0.1 N/m to 20N/m. ( WaveMode and DriveAFM are trademarks of Nanosuurf)

Designed for high resolution and durability for all EFM applications- CAFM, KPFM, PFM etc.

Available with Silver and Gold coating options with high enhancement factors.

Tip View probes for all modes applications.

Probes for precise measurement of contact area with tilt compensation for accurate Nanomechanical properties.

Probes for precise measurement of contact area. Avavilable in a large range of spring constant.

Probes for all AFMs, and all Applications.
Step Height Standard (SHS)

AFM、SEM、光学式/機械式プロファイラの校正用に設計された多目的キャリブレーションサンプルです。 異なるピッチのステップハイト、ライン、グリッド、倍率ボックス、スポット測定構造を有します。
本品はSiO2とSiで構成され、オプションで反射率向上、帯電防止のための金属コートが選択可能です。
SThMモジュールVertiSenseおよびThernal Probe

市販のSPMに組み込むことでSThM(走査型サーマル顕微鏡)測定を可能とするモジュールです。
実温度マッピングのみならず、熱伝導率コントラストマッピングが可能です。
熱電対プローブ VTPシリーズ
- センサー部には従来のサーミスタではなく熱電対を採用することで、直接的な温度測定が可能です。
センサーはTip先端部に設置されるため、形状と温度が同じ位置で、同時に取得できます。
構造は、Siカンチレバー上の中空Tip(SiO2)に熱電対構造が組み込まれています。 - 使用可能な最大温度: 700℃
- 感度(温度分解能): 0.01℃
- 使用可能な最大温度: 700℃
- 曲率半径: 50nm(温度分解能は20nmの実績あり)
- コンタクトモード、ノンコンタクトモード、ハイブリッドモードでの動作可能